τεχνολογία

Τα error μνήμης αναλύει έρευνα της Google

Με θέμα «DRAM Errors in the Wild: A Large-Scale Field Study» παρουσιάστηκαν από τους ερευνητές Bianca Schroeder, του Πανεπιστημίου του Toronto και τους Eduardo Pinheiro και Wolf-Dietrich Weber της Google, τα αποτελέσματα μιας αναλυτική έρευνας σχετικά με τα σφάλματα στις μνήμες. Πρόκειται για μια στατιστική ανάλυση και επεξεργασία που προέκυψε από τη συστηματική παρακολούθηση και καταγραφή των σφαλμάτων που εμφανίζουν οι μνήμες DDR1, DDR2 και FBDIMM, διαφόρων κατασκευαστών, στους υπολογιστές της Google, για χρονικό διάστημα δυόμιση ετών.
Είναι μια από τις πλέον εκτεταμένες έρευνες, κάτω από πραγματικές συνθήκες λειτουργίας, που παρόμοια δεν έχει δημοσιευθεί στο παρελθόν. Οι μέχρι τώρα έρευνες αφορούσαν προσομοιωμένα περιβάλλοντα ή ήταν εξαιρετικά περιορισμένες σε αριθμό μνημών και διάρκεια παρακολούθησης.
Τα αποτελέσματα από την παρούσα δημοσίευση διαφέρουν σε κάποια σημεία από τις μέχρι τώρα έρευνες και εισάγουν νέες αντιλήψεις σχετικά με τις μνήμες. Ειδικότερα, ο αριθμός των σφαλμάτων που οφείλονται στη μνήμη είναι πολύ μεγαλύτερος από ότι νομίζαμε. Υπολογίζεται ότι το 8,2% των μνημών είχαν κατασκευαστικό πρόβλημα και αντικαταστάθηκαν. Επίσης, βρέθηκε ότι ο φόρτος εργασίας του επεξεργαστή προδιαθέτει σε αύξηση των σφαλμάτων μνήμης ενώ η αυξημένη θερμοκρασία λειτουργίας δεν ήταν σημαντική αιτία λαθών.
Τα σφάλματα μνήμης είναι εξαιρετικά σημαντικά γιατί οδηγούν είτε σε λανθασμένες καταχωρήσεις ή σε διακοπή λειτουργίας των υπολογιστών. Έτσι ακόμα και ένα σφάλμα υλικού να διαπιστωθεί στους υπολογιστές της Google, η μνήμη αντικαθίσταται άμεσα.
H μελέτη καταλήγει σε επτά συμπεράσματα που επιγραμματικά έχουν ως εξής.
Συμπέρασμα 1: Η συχνότητα των σφαλμάτων μνήμης και το φάσμα των ποσοστών σφάλματος σε διάφορα DIMMs είναι πολύ υψηλότερο από ό, τι έχει αναφερθεί στο παρελθόν.
Συμπέρασμα 2: Τα σφάλματα της μνήμης εμφανίζουν έντονη συσχέτιση. Μια μνήμη που παρουσιάζει ένα διορθώσιμο σφάλμα, έχει 13 έως 228 φορές περισσότερες πιθανότητες να παρουσιάσει και δεύτερο σφάλμα μέσα στον ίδιο μήνα σε σχέση με ένα DIMM που δεν εμφάνισε λάθος.
Συμπέρασμα 3: Η συχνότητα εμφάνισης διορθώσιμων σφαλμάτων αυξάνεται με την ηλικία, ενώ η συχνότητα εμφάνισης μη διορθώσιμων σφαλμάτων μειώνεται με την ηλικία επειδή οι μνήμες αυτές αντικαθίστανται άμεσα. Για όλους τους τύπους DIMM η γήρανση, με τη μορφή της αύξησης του ποσοστού των διορθώσιμων σφαλμάτων εμφανίζεται μέσα σε 10-18 μήνες λειτουργίας
Συμπέρασμα 4: Δεν υπάρχουν ενδείξεις ότι οι νεότερες γενιές DIMMs έχουν χειρότερη συμπεριφορά όσον αφορά τα σφάλματα, παρά το γεγονός ότι έχουν μεγαλύτερη πυκνότητα κυκλωμάτων.
Συμπέρασμα 5: Η θερμοκρασία έχει εκπληκτικά μικρή επίδραση στα σφάλματα μνήμης.
Συμπέρασμα 6: Τα ποσοστά σφάλματος παρουσιάζουν ισχυρή συσχέτιση με το φόρτο εργασίας. Ο φόρτος εργασίας μετρήθηκε έμεσα από το ποσοστό χρήσης του επεξεργαστή.
Συμπέρασμα 7: Η συχνότητα των σφαλμάτων οφείλεται κυρίως σε προβλήματα των μνημών και πολύ λιγότερο σε άλλες αιτίες όπως η κοσμική ακτινοβολία.

About Freegr network

Από το Blogger.